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當前位置:首頁  >  產(chǎn)品展示  >  材料成分分析儀器  >  FT-IR紅外光譜儀  >  FTIR-650SFT-IR紅外光譜儀

FT-IR紅外光譜儀

簡要描述:FT-IR紅外光譜儀是近十幾年來頗受市場用戶青睞的系列產(chǎn)品,該產(chǎn)品擁有高的信噪比,穩(wěn)定性及好的操作體驗。

  • 產(chǎn)品型號:FTIR-650S
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-09-14
  • 訪  問  量:85

詳細介紹

品牌其他品牌信噪比2.2*10AU
掃描速度60秒分辨率0.5cm-1
波數(shù)范圍7800-350cm-1儀器類型實驗室型
價格區(qū)間15萬-20萬儀器種類傅立葉變換型(FT)
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥,綜合

儀器特點

原裝**紅外檢測儀器,配合最新24位A/D轉(zhuǎn)換技術(shù),實現(xiàn)數(shù)據(jù)的高靈敏度,準確度,實時采集和高速傳輸

光學(xué)臺一體化成型,主要部件一次定位,無需后期調(diào)整,大幅度提高儀器穩(wěn)定性和可靠性

一體成型鍍金角鏡,擁有高光通量和高發(fā)射率,免粘接工藝不受環(huán)境影響,提高儀器的穩(wěn)定性

電源開關(guān)位置更便攜,艙門打開方式更方便,是操作者更有效的完成樣品取放,從而有效的提升樣品檢測率

分離式干涉儀和探測器防潮設(shè)計,有效保護紅外光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)和探測系統(tǒng),從而免受外界濕氣和有害其他的干擾和腐蝕

全新抗電磁干擾設(shè)計,一方面有效降低了對外電磁輻射,同時另一方面有效提高系統(tǒng)本身的抗電磁干擾能力,以符合電磁兼容設(shè)計規(guī)范要求

專用附件

ATR附件

漫反射附件

IRA-RD-N寶石鑒定附件

IRA-MC1紅外顯微鏡

紅外光纖探頭

IRA-RS-P平行光附件

HS-2中*基測試附件

HS-1中氧碳測試附件

水平ATR附件


  介紹一下薄膜法:

1.適用領(lǐng)域:熔點低,熔融時不發(fā)生分解,升華和其他化學(xué)變化的物質(zhì),如塑料,橡膠等

2.操作流程:采用加熱熔融的方法壓制成薄膜后測定

3.有點:避免直接透射紅外信號溢出得的問題,相比反射法來說紅外譜圖信息更為豐富

4.所需附件:薄膜測試附件


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